화합물전처리,분석장비 XRF 성분분석기
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XRF 성분분석기
Bench-top X-ray Fluorescence Analyzer
시설장비활용번호Z-202107083816
시설장비등록번호NFEC-2009-01-069365
시설장비표준분류X-선형광분석기
- 장비활용서비스한국생산기술연구원
- 장비문의 032-850-0282
- 예약문의 041-589-8546
- 이용요금50,000원 ( 시간당 )
본문
장비정보
Information
- 제작사명(모델명)Seiko Instruments (SEA1000A)
- 구축일자2008년 06월 17일
- 사용용도분석
- 표준분류화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기
- 설치장소인천광역시 연수구 갯벌로 156 (송도동) 7-47번지 F2 2039
- 장비설명ㅇ 원리 및 특징
- 형광Ｘ선 분석법을 원리로 하여 고체·분말·액체 시료에 포함되어 있는 원소의 정성·정량 분석
- 시료 중의 알루미늄(Z=13) ∼ 우라늄(Z=92)의 다 원소 동시 분석
- 유럽의 WEEE 및 RoHS지령에 대응하여 플라스틱 내의 Cd Pb등 유해 금속을 수 ppm까지 측정
- 최대 5층까지의 금속 도금의 두께를 비접촉 비파괴 방식으로 빠르고 정밀하게 측정
- 구성 및 성능ㅇ 구성 및 성능
Max. force : 5250 g
- 사용/활용예ㅇ 사용예 및 활용분야
고체·분말·액체 시료 중의 알루미늄(Z=13) ∼ 우라늄(Z=92)의 다 원소를 동시에 분석. 반도체 관련부품 인쇄회로기판 및 전자관련 부품 및 자동차관련부품 등 모든 공산품에 응용되며 Eu의 환경규제법에 대응하여 중금속의 양을 PPM단위로 미세 분석
